Ausstattung

  • Weißlicht- und 3-Wellenlängeninterferometer zur Prüfung unstetiger Oberflächenprofile im Mikrobereich
  •  Fizeau-Interferometer für den Planflächen- und Sphärentest
  • Twyman-Green-Interferometer für die Prüfung von Mikro- und Makrolinsen im reflektierten Licht (Sphärizität, Radius)
  •  Mach-Zehnder-Interferometer für die Prüfung von Mikrolinsen im Durchlicht (Wellenaberrationen, PSF, MTF, Brennweite, NA)
  • Interferometer in streifender Inzidenz für die Prüfung von Azylinderlinsen zur Strahlformung von Halbleiterlaserbarren
  • Shack-Hartmann-Sensor zur Wellenfrontprüfung

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Aktuelle Ausgabe: Newsletter No 13 - Oktober 2018

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